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藍(lán)寶石

服務(wù)創(chuàng)造價(jià)值、存在造就未來

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藍(lán)寶石光學(xué)材料
藍(lán)寶石光學(xué)玻璃

藍(lán)寶石窗口材料_藍(lán)寶石光學(xué)材料(可定制)

產(chǎn)品材質(zhì):
產(chǎn)品型號(hào)/尺寸:sapphire
最小起訂量:1
關(guān)注度:485
產(chǎn)品詳情

上海鑫科匯新材料有限公司是國(guó)內(nèi)專業(yè)從事藍(lán)寶石單晶,藍(lán)寶石晶圓,藍(lán)寶石窗口材料的生產(chǎn)和銷售,目前我們有兩大生產(chǎn)基地同時(shí)和國(guó)內(nèi)多家供應(yīng)商保持良好的關(guān)系,目前可提供藍(lán)寶石材料數(shù)十種,并可根據(jù)客戶的實(shí)際需求定制開發(fā),包括來圖加工,產(chǎn)品定制。歡迎來電咨詢。


藍(lán)寶石玻璃光學(xué)窗口片是一種平行平面板,通常用作電子傳感器或外在環(huán)境的檢測(cè)器的保護(hù)窗口。在選擇窗口片時(shí),使用者應(yīng)考慮其材料透射屬性以及基片的機(jī)械屬性是否與應(yīng)用要求相符。窗口片不會(huì)更改系統(tǒng)的放大倍率。深圳市賡旭光電提供多個(gè)可選增透膜能夠應(yīng)用于紫外光、可見光或紅外光譜等方面。 


寶石(Al2O3)玻璃光學(xué)窗口片是一種性能優(yōu)秀的光學(xué)窗口和基片材料,在紫外/可見光/紅外波段具有較高的透過率,透過范圍為170nm-5.5um,耐高溫(1700℃下可長(zhǎng)期服役),硬度高,僅次于金剛石,且耐酸堿腐蝕。   

藍(lán)寶石玻璃可用作光學(xué)窗口鏡片,鏡頭保護(hù)鏡片,視窗,裝甲窗口,耐磨窗口/光學(xué)元件,耐高溫耐沖擊光學(xué)窗口等。深圳市賡旭光電提供性能優(yōu)異的藍(lán)寶石基片和窗口材料,并可按照您的要求加工不同尺寸和形狀,保證光學(xué)性能優(yōu)異。

我公司可提供藍(lán)寶石規(guī)格為:2寸,4寸,6寸(A向,C向,M向,R向),實(shí)驗(yàn)級(jí)別和研究級(jí)別均可提供。

以下參數(shù)僅僅提供2寸雙拋和4寸C向藍(lán)寶石襯底規(guī)格,其他規(guī)格請(qǐng)聯(lián)系我們。


文件名稱2inch   C-plane (0001) DSP 0.1mM double side polished    Sapphire substrates 文件編號(hào)
客戶名 
版本/修改次A/0受控號(hào)
客戶品名2寸雙拋藍(lán)寶石C向襯底片材質(zhì)藍(lán)寶石


認(rèn)可書編號(hào)
 1形狀、尺寸(Shape   and Dimensions   單位(unit):mm
















































No
    (
Properties

   
Target

   
Tolerance
remark
1Diameter50.8mm± 0.2mm

2Thickness100μm±15μm

3Surface orientation of A-planeOff C-axis toM0.2°± 0.1°

4Primary flat length16mm±1mm

5Primary flat orientationC-plane±0.1°

6 RaBack side Roughness<0.3nm


7 RaFront side Roughness≤0.3nm for DSP or   1.0±0.2um for SSP 

8(Wafer edge)R-type







9Total Thickness Variation, TTV 10μm(LTV≤5μm,5*5)

10(Warp≤10μm

11Bow-10 μm   BOW 0

12Laser MarkN/A無(wú)


Package
   
25 wafers in one   cassette


Trace ability
   
Wafers shall be   traceable with respect to cassette number),



 4寸C向藍(lán)寶石襯底










No
    (
Properties

   
Target

   
Tolerance
1Diameter100mm± 0.1mm
2Thickness500μm±15μm
3Surface orientation of A-planeOff C-axis toM0.2°± 0.1°
4Primary flat length30mm±1mm
5Primary flat orientationA-plane±0.1°
6 RaBack side Roughness<0.3nm
7 RaFront side Roughness≤0.3nm for DSP or   1.0±0.2um for SSP 
8(Wafer edge)R-type
9Total Thickness Variation, TTV 10μm(LTV≤5μm,5*5)
10(Warp≤15μm
11Bow-10 μm   BOW 0
12Laser MarkN/A


Package
   
25 wafers in one   cassette
Trace   ability
   
Wafers shall be   traceable with respect to cassette number),


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